Popis: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis /

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Goldstein, Joseph, 1939- (Autor)
Typ dokumentu:	Kniha
Jazyk:	Angličtina
Vydáno:	New York, N.Y. : Springer, 2003
Vydání:	3rd ed.
Témata:	elektronová mikroanalýza skenovací elektronová mikroskopie electron probe microanalysis scanning electron microscopy učebnice

Přejít na ObalkyKnih.cz

Popis
Fyzický popis:	xix, 690 s. + 1 CD-ROM
ISBN:	0-306-47292-9 9780306472923