Přeskočit na obsah
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Filtr e-prezenčka
Vyhledávání
Fundamentals of surface and th...
Popis
Citace.com
×
Citace.com
Poslat emailem
Exportovat záznam
Exportovat do RefWorks
Exportovat do EndNoteWeb
Exportovat do EndNote
Exportovat do MARC
Exportovat do MARCXML
Exportovat do RDF
Exportovat do BibTeX
Exportovat do RIS
Do oblíbených
Fundamentals of surface and thin film analysis /
Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autoři:
Feldman, Leonard C.
(Autor)
,
Mayer, James W., 1930-2013
(Autor)
Typ dokumentu:
Kniha
Jazyk:
Angličtina
Vydáno:
New York :
North-Holland,
1986.
Témata:
monografie
Jednotky
Popis
MARC21
Popis
Fyzický popis:
352 s.
Podobné jednotky
Surface and thin film analysis : principles, instrumentation, applications /
Vydáno: (2002)
Thin films and surfaces : structure and properties, production of thin films, detailed properties of aluminium, with comparative data for other metals, applications /
Autor: Lewis, Winfred
Vydáno: (1955)
Solid surfaces, interfaces and thin films /
Autor: Lüth, Hans, 1940-
Vydáno: (2001)
Solid surfaces, interfaces and thin films /
Autor: Lüth, Hans, 1940-
Vydáno: (2015)
Introduction to surface and thin film processes /
Autor: Venables, John A., 1936-
Vydáno: (2000)
×
Načítá se...