Výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Váš názor
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Zachovat současné nastavení filtrů
topic_facet:"optické vlastnosti materiálů"
topic_facet:"tenké vrstvy"
language:"English"
Vyhledávání:
Výsledky
1 - 2
z
2
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,01 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures /
Autor
Pietsch, Ullrich, 1952-
,
Holý, Václav, 1953-
,
Baumbach, Tilo, 1961-
Vydáno 2004
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
2
Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide /
Autor
Tompkins, Harland G., 1938-
,
McGahan, William A., 1966-
Vydáno 1999
Umístění:
Načítá se...
Publisher description
Table of Contents
Kniha
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Odstranit filtry
Zrušit filtr
Doporučená témata: optické vlastnosti materiálů
Zrušit filtr
Doporučená témata: tenké vrstvy
Zrušit filtr
Jazyk: Angličtina
Knihovna
Přírodovědecká fakulta
2
Typ dokumentu
Kniha
2
Autor
Baumbach, Tilo, 1961-
1
Holý, Václav, 1953-
1
McGahan, William A., 1966-
1
Pietsch, Ullrich, 1952-
1
Tompkins, Harland G., 1938-
1
Jazyk
Angličtina
Doporučená témata
Fyzika
2
optical properties of materials
2
optické vlastnosti materiálů
tenké vrstvy
thin films
2
X-rays
1
více ...
nanomaterials
1
nanomateriály
1
rentgenové záření
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Žánr
collective monographs
1
kolektivní monografie
1
Rok vydání
Od:
do:
×
Načítá se...