Charakterizace tenkých vrstev chalkogenidů pomocí optických metod a AFM

Autor Omasta, Jaroslav
Vydáno 2002

Charakterizace tenkých vrstev polovodičů A2B6 pomocí spektroskopické elipsometrie, spektroskopické reflektometrie a mikroskopie atomové síly

Autor Šiler, Martin
Vydáno 2003

Elektrická a optická vodivost tenkých vrstev

Autor Štoudek, Richard
Vydáno 2001

Vliv ozáření vrstev fotorezistů na jejich optické parametry

Autor Gregr, Pavel
Vydáno 2001

Vliv poruch na optické vlastnosti tenkých vrstev

Autor Pavelka, Radek
Vydáno 2002

High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures /

Autor Pietsch, Ullrich, 1952-, Holý, Václav, 1953-, Baumbach, Tilo, 1961-
Vydáno 2004

Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide /

Autor Tompkins, Harland G., 1938-, McGahan, William A., 1966-
Vydáno 1999

Optický systém s amalgamem - úhlová závislost

Autor Dvořák, Jan
Vydáno 2010

Porušený totální odraz v Ottově konfiguraci

Autor Buchtová, Lenka
Vydáno 2012