Výsledky vyhledávání

1

Charakterizace tenkých vrstev chalkogenidů pomocí optických metod a AFM

Autor Omasta, Jaroslav
Vydáno 2002

Elektronická verze přístupná pouze pro studenty a pracovníky MU

VŠ práce nebo rukopis

2

Charakterizace tenkých vrstev polovodičů A2B6 pomocí spektroskopické elipsometrie, spektroskopické reflektometrie a mikroskopie atomové síly

Autor Šiler, Martin
Vydáno 2003

VŠ práce nebo rukopis

3

Electrodynamics of solids : optical properties of electrons in matter /

Autor Dressel, Martin, 1960-, Grüner, George, 1943-
Vydáno 2002

Kniha

4

Elektrická a optická vodivost tenkých vrstev

Autor Štoudek, Richard
Vydáno 2001

VŠ práce nebo rukopis

5

Optical characterization of solids /

Autor Dragoman, Daniela, 1965-, Dragoman, Mircea, 1955-
Vydáno 2002

Kniha

6

Optical properties and band structure of semicanductors /

Autor Greenaway, David L., Harbeke, Günther
Vydáno 1968

Kniha

7

Optical properties of crystalline and amorphous semiconductors : materials and fundamental principles /

Autor Adachi, Sadao, 1950-
Vydáno 1999

Kniha

8

Optical properties of semiconductor quantum dots /

Autor Woggon, Ulrike, 1958-
Vydáno 1997

Kniha

9

Optical properties of solids /

Vydáno 1972

Kniha

10

Optical waves in layered media /

Autor Yeh, Pochi, 1948-
Vydáno 1988

Kniha

11

Optická odezva legovaného GaAs v infračerveném oboru

Autor Přibyla, Ondřej
Vydáno 2002

VŠ práce nebo rukopis

12

Optická odezva legovaného SiGe v infračerveném oboru

Autor Bureš, Martin
Vydáno 2004

VŠ práce nebo rukopis

13

Optické vlastnosti nízkoenergiové autoemisní trysky

Autor Kolařík, Robert
Vydáno 2002

Elektronická verze přístupná pouze pro studenty a pracovníky MU

VŠ práce nebo rukopis

14

Optické vlastnosti nízkoenergiové autoemisní trysky

Autor Kolařík, Robert
Vydáno 2002

Elektronická verze přístupná pouze pro studenty a pracovníky MU

VŠ práce nebo rukopis

15

Spectroscopic ellipsometry and reflectometry : a user's guide /

Autor Tompkins, Harland G., 1938-, McGahan, William A., 1966-
Vydáno 1999

Publisher description
Table of Contents

Kniha

16

Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials /

Autor Pecharsky, Vitalij K., Zavalij, Peter Y.
Vydáno 2009

Kniha

17

Modulační elipsometrie

Autor Oulehla, Jindřich
Vydáno 2008

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

18

Plazmochemická depozice organosilikonových tenkých vrstev

Autor Pekař, Václav
Vydáno 2008

Získat plný text

VŠ práce nebo rukopis

19

Handbook of optical constants of solids, volumes I, II, and III : subject index and contributor index. /

Vydáno 1998

Kniha

20

Optics of quantum dots and wires /

Vydáno 2005

Kniha

Upřesnit hledání