Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Váš názor
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Zachovat současné nastavení filtrů
topic_facet:"ellipsometry"
topic_facet:"electronics"
Vyhledávání:
Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,02 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements /
Autor
Schmidt, Eduard, 1935-2021
Vydáno 1969
Umístění:
Načítá se...
Kniha
Načítá se...
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Odstranit filtry
Zrušit filtr
Doporučená témata: ellipsometry
Zrušit filtr
Doporučená témata: electronics
Knihovna
Přírodovědecká fakulta
1
Typ dokumentu
Kniha
1
Autor
Janča, Jan, 1938-
1
Lukeš, František, 1931-
1
Schmidt, Eduard, 1935-2021
1
Stejskalová, Vlaďka, 1943-
1
Jazyk
Čeština
1
Angličtina
1
Ruština
1
Doporučená témata
Fyzika
1
electronics
elektronika
1
elipsometrie
1
elipsometry
1
ellipsometry
více ...
fyzika
1
interpolační metoda
1
physics
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Žánr
papers of several authors
1
sborníky
1
Rok vydání
Od:
do:
×
Načítá se...