Interpolační metoda pro určení technických parametrů z elipsometrických měření ; Metody stanovení optických konstant z intenzity odraženého světla ; Using rotoreflection for the measurement of the optical properties of germanium and silicon ; The optimization of ellipsometric measurements /

Autor Schmidt, Eduard, 1935-2021
Vydáno 1969

Ellipsometrija /

Autor Gorškov, Michail Michajlovič.
Vydáno 1974

Ellipsometrija : teorija, metody, priloženija. /

Vydáno 1987

Ellipsometrija i poljarizovannyj svet /

Autor Azzam, R. M. A., 1945-, Bashara, N. M.
Vydáno 1981

Osnovy ellipsometrii /

Vydáno 1979