Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
Přeskočit na obsah
Váš názor
Váš účet
Odhlásit
Přihlášení
English
Informace o aktuálním provozu knihoven sledujte na jejich
stránkách
.
Vše
Název
Autor
Téma
ISBN/ISSN
Signatura
Čárový kód
Systémové číslo
Hledat
Pokročilé vyhledávání
Pokročilé vyhledávání
Zachovat současné nastavení filtrů
topic_facet:"ellipsometry"
author_facet:"Nečas, David, 1976-"
Vyhledávání:
Výsledky
1 - 1
z
1
pro vyhledávání '
'
, doba hledání: 0,01 s.
Upřesnit hledání
Seřadit podle
Relevance
Podle data sestupně
Podle data vzestupně
Autor
Název
1
Optical characterisation of non-uniform thin films
Autor
Nečas, David, 1976-
Vydáno 2013
Umístění:
Načítá se...
Získat plný text
VŠ práce nebo rukopis
Do oblíbených
Uloženo v:
Jednotky
Vyhledávací nástroje:
RSS
—
Poslat emailem
—
Uložit hledání
Zpět
Upřesnit hledání
Odstranit filtry
Zrušit filtr
Doporučená témata: ellipsometry
Zrušit filtr
Autor: Nečas, David, 1976-
Knihovna
Přírodovědecká fakulta
1
Typ dokumentu
VŠ práce nebo rukopis
1
Autor
Nečas, David, 1976-
Ohlídal, Ivan, 1945-
1
Jazyk
Angličtina
1
Doporučená témata
Fyzika
1
elipsometrie
1
ellipsometry
neuformita (fyzika)
1
non-uniformity (physics)
1
tenké vrstvy
1
více ...
thin films
1
Zobrazit vše ...
méně ...
Žánr
disertace
1
dissertations
1
Rok vydání
Od:
do:
×
Načítá se...
