Charakterizace tenkých vrstev chalkogenidů pomocí optických metod a AFM

Autor Omasta, Jaroslav
Vydáno 2002

Charakterizace tenkých vrstev polovodičů A2B6 pomocí spektroskopické elipsometrie, spektroskopické reflektometrie a mikroskopie atomové síly

Autor Šiler, Martin
Vydáno 2003

Elektrická a optická vodivost tenkých vrstev

Autor Štoudek, Richard
Vydáno 2001

Optická odezva legovaného SiGe v infračerveném oboru

Autor Bureš, Martin
Vydáno 2004

Vliv ozáření vrstev fotorezistů na jejich optické parametry

Autor Gregr, Pavel
Vydáno 2001

Vliv poruch na optické vlastnosti tenkých vrstev

Autor Pavelka, Radek
Vydáno 2002