Rtg difrakční analýza oxidových vrstev - Číž, Tomáš (2018)
Předložená práce se zabývá studiem vlastností oxidů (La,Sr)CoO₃ a YBCO deponovaných na substrátech LAO a LSAT. K určení těchto vlastností byly využity dvě rozdílné metody rentgenové strukturní analýzy. První z nich je reflexe rentgenového záření, pomocí níž jsme schopni určit především tloušťku tenké vrstvy, hustotu obou krystalů a drsnost jejich rozhraní. Metoda spočívá v analýze rentgenové reflexní křivky a jejím srovnáním s numerickou simulací. Druhá z metod se jmenuje mapování reciprokého prostoru a využívá principu rentgenové difrakce. Slouží k určení mřížových parametrů krystalů, ze kterých je dopočítáno také mechanické napětí v tenké vrstvě. Práce obsahuje jak popis obou metod, tak také komentované výsledky měření pro jednotlivé zkoumané vzorky.