Imaging the local density of electronic states by very low energy electron reflectivity - Pokorná, Zuzana (2011)
Tato práce se zabývá vztahem mezi odrazivostí velmi pomalých elektronů od krystalického vzorku a hustotou elektronových stavů nad vakuovou hladinou pro tento vzorek. Na příkladech monokrystalických vzorků bylo ukázáno, že tento vztah je mnohem volnější než prostá nepřímá úměra, jak vyplývá z teoretických výpočtů. Jsou diskutovány jevy, ovlivňující informaci obsaženou v signálu, především čistota povrchu vzorku. Jelikož různé krystalografické orientace téhož materiálu vykazují různou hustotu stavů, je užitečnost odrazivosti velmi pomalých elektronů demonstrována na určení krystalografické orientace.