Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2008 : Orlando, USA, December 4-6, 2008 : proceedings /
Uloženo v:
Korporace: | , |
---|---|
Další autoři: | |
Typ dokumentu: | Kniha |
Jazyk: | Angličtina |
Vydáno: |
Berlin :
Springer,
2008.
|
Edice: | Lecture notes in computer science ;
5342 |
Témata: |
Fyzický popis: | xxiii, 1011 s. |
---|---|
ISBN: | 978-3-540-89688-3 3540896880 |