Povrchový plazmon

Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrick...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Main Author: Kisela, Tomáš, 1984- (Dissertant)
Other Authors: Schmidt, Eduard, 1935- (Thesis advisor)
Format: Thesis Manuscript
Language:Czech
Published: 2007.
Subjects:
Online Access:http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/
Cover Image
For reservations/loans of the physical document, please log in.
Description Status Library Collection Call Number Notes Barcode
Available
In house loan
Faculty of Science ÚK volný výběr K-F-2007-KISE 3145338856