Povrchový plazmon
Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrick...
Uloženo v:
Hlavní autor: | |
---|---|
Další autoři: | |
Typ dokumentu: | VŠ práce nebo rukopis |
Jazyk: | Čeština |
Vydáno: |
2007.
|
Témata: | |
On-line přístup: | http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/ |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
---|---|---|---|---|---|---|
Dostupné Prezenční |
Přírodovědecká fakulta | ÚK volný výběr | K-F-2007-KISE | 3145338856 |