Povrchový plazmon

Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrick...

Celý popis

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
Hlavní autor: Kisela, Tomáš, 1984- (Autor práce)
Další autoři: Schmidt, Eduard, 1935-2021 (Vedoucí práce)
Typ dokumentu: VŠ práce nebo rukopis
Jazyk:Čeština
Vydáno: 2007.
Témata:
On-line přístup:http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/
Obálka
LEADER 04462ntm a22008537a 4500
001 MUB01000528839
003 CZ BrMU
005 20080218111927.0
008 071004s2007 xr |||||q|||||||||||cze d
STA |a POSLANO DO SKCR  |b 2014-12-05 
040 |a BOD004  |b cze 
072 7 |a 537.6/.8  |x Magnetismus. Elektromagnetismus  |2 Konspekt  |9 6 
080 |a 537.87  |2 MRF 
080 |a 539.261  |2 MRF 
080 |a 537.6/.8  |2 MRF 
100 1 |a Kisela, Tomáš,  |d 1984-  |7 mub2011662856  |% UČO 151066  |4 dis 
242 1 0 |a Surface plasmon as a biosensor  |y eng 
245 1 0 |a Povrchový plazmon  |h [elektronický zdroj] /  |c Tomáš Kisela. 
246 1 |a Povrchový plasmon jako biodetektor 
260 |c 2007. 
300 |a 1 CD-ROM. 
500 |a Vedoucí práce: Eduard Schmidt. 
502 |a Bakalářská práce (Bc.)--Masarykova univerzita, Přírodovědecká fakulta, 2007. 
520 2 |a Vytvořili jsme program, který počítá odrazivost a elipsometrické úhly pro zadanou soustavu tenkých vrstev v závislosti na vlnové délce světla či úhlu dopadu, nebo z naměřeného průběhu těchto charakteristik určuje indexy lomu a tloušťky vrstev v soustavě. Dále byla prokázána existence vlivu elektrického pole na polohu minima elipsometrického úhlu $\psi$ pro soustavu s Kretschmannovou konfigurací a byla provedena diskuse možností využití napsaného programu pro modelování průběhu indexu lomu v elektrolytu.  |% cze 
520 2 9 |a We wrote computer program which calculates reflectance and ellipsometic angles for stratified structures depending on wavelength of light or angle of incidence. Next refractive indexes and thicknesses of layers can be found from the measured ellipsomeric angles by this program. We proved the existence of effect of electric field on position of minimum of ellipsometric angle $\psi$ in the system with Kretschmann configuration and we discussed usefulness of the written program for simulation of course of the refractive index in electrolyte.  |9 eng 
650 0 7 |a elektromagnetické vlny  |7 ph119882  |2 czenas 
650 0 7 |a tenké vrstvy  |7 ph126536  |2 czenas 
650 0 9 |a electromagnetic waves  |2 eczenas 
650 0 9 |a thin films  |2 eczenas 
655 7 |a bakalářské práce  |7 fd132403  |2 czenas 
658 |a Fyzika  |b Fyzika  |c PřF B-FY FYZ (FYZ)  |2 CZ-BrMU 
700 1 |a Schmidt, Eduard,  |d 1935-2021  |7 jk01110985  |% UČO 17  |4 ths 
710 2 |a Masarykova univerzita.  |b Katedra fyziky  |7 kn20050428006  |4 dgg 
856 4 1 |u http://is.muni.cz/th/151066/prif_b/ 
CAT |a DRIMLOVA  |b 02  |c 20071004  |l MUB01  |h 1007 
CAT |a NOVAKOVA  |b 02  |c 20080218  |l MUB01  |h 1119 
CAT |c 20080429  |l MUB01  |h 1814 
CAT |c 20080429  |l MUB01  |h 1828 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091102  |l MUB01  |h 0619 
CAT |a BATCH-UPD  |b 02  |c 20091103  |l MUB01  |h 0135 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 0157 
CAT |c 20091203  |l MUB01  |h 1841 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20091219  |l MUB01  |h 0743 
CAT |c 20100428  |l MUB01  |h 1004 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100501  |l MUB01  |h 1140 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20100929  |l MUB01  |h 0325 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20110816  |l MUB01  |h 1559 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111005  |l MUB01  |h 1026 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111005  |l MUB01  |h 1041 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20111012  |l MUB01  |h 1411 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20111017  |l MUB01  |h 1136 
CAT |a batch  |b 00  |c 20120324  |l MUB01  |h 0107 
CAT |c 20120610  |l MUB01  |h 1905 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20120718  |l MUB01  |h 1422 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20130303  |l MUB01  |h 0926 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20130424  |l MUB01  |h 0752 
CAT |a POSPEL  |b 02  |c 20131217  |l MUB01  |h 1537 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20140911  |l MUB01  |h 1544 
CAT |c 20141112  |l MUB01  |h 0950 
CAT |c 20141203  |l MUB01  |h 1636 
CAT |c 20141205  |l MUB01  |h 1146 
CAT |c 20150901  |l MUB01  |h 1439 
CAT |c 20150921  |l MUB01  |h 1359 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20151225  |l MUB01  |h 2303 
CAT |c 20170314  |l MUB01  |h 1205 
CAT |a HANAV  |b 02  |c 20190407  |l MUB01  |h 0103 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 0927 
CAT |c 20210614  |l MUB01  |h 1916 
CAT |a BATCH  |b 00  |c 20210724  |l MUB01  |h 1130 
CAT |a BATCH-UPD  |b 00  |c 20211112  |l MUB01  |h 2352 
LOW |a POSLANO DO SKCR  |b 2014-12-05 
994 - 1 |l MUB01  |l MUB01  |m CDROM  |1 PRIF  |a Přírodovědecká fakulta  |2 PRFST  |b ÚK volný výběr  |3 K-F-2007-KISE  |5 3145338856  |8 20071004  |f 70  |f Prezenční  |q 20180718  |r 20071004  |s dar 
AVA |a SCI50  |b PRIF  |c ÚK volný výběr  |d K-F-2007-KISE  |e available  |t K dispozici  |f 1  |g 0  |h N  |i 0  |j PRFST