Thin film analysis by X-ray scattering /
Uloženo v:
| Hlavní autor: | |
|---|---|
| Typ dokumentu: | Kniha |
| Jazyk: | Angličtina |
| Vydáno: |
Weinheim :
Wiley-VCH,
c2006.
|
| Témata: |
Pro rezervaci/výpůjčku fyzického dokumentu se přihlaste.
| Popis | Stav | Knihovna | Sbírka | Signatura | Poznámky | Čárový kód |
|---|---|---|---|---|---|---|
|
Dlouhodobá do 2029-10-31 |
Přírodovědecká fakulta | ÚK volný výběr | 538.97-BIRK | 3145329193 | ||
|
Dlouhodobá do 2028-03-20 |
Přírodovědecká fakulta | ÚK volný výběr - F | 538.97-BIRK | 3145380705 |