High-resolution X-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures - Pietsch, Ullrich, 1952-; Holý, Václav, 1953-; Baumbach, Tilo, 1961- (New York : Springer, 2004)
Keywords: tenké vrstvy; optické vlastnosti materiálů; rentgenové záření; nanomateriály; thin films; optical properties of materials; X-rays; nanomaterials; kolektivní monografie; collective monographs; e-prezenčka